小型・高電力化を支える熱設計技術高電力チップ抵抗器の活用と放熱・計測

2026年8月19日(水)13:30より会員限定無料Webセミナーを開催いたします。

電子機器の小型化・高電力化が進む中、高電力チップ抵抗器を安全かつ効果的に活用するには、熱設計の最適化が不可欠です。本セミナーでは、放熱の基本から、基板・筐体を活用した設計手法、高熱流束部品への対応、さらには温度計測での注意点まで、小型化を実現するための熱設計技術について解説します
開催概要
日時 2026年8月19日(水)
13:30~16:25 (約140分+全体質疑応答)
形式 Zoomウェビナー
申込

事前登録制(参加無料)

基板放熱から筐体放熱まで ~高熱流束部品の熱対策手法~

講師1|国峯

株式会社サーマルデザインラボ
代表取締役
KOA 技術顧問 国峯 尚樹

GPUやパワーデバイスなど発熱の大きい部品はヒートシンクやファン、ヒートパイプなど様々な冷却デバイスを駆使した熱対策が可能です。しかし発熱量が大きくなくても発熱の密度(熱流束)が高い小型部品にも熱対策が必要ですが、これらには冷却デバイスが使用できません。基板や筐体に熱を拡散する高度な熱設計によって処理する必要があり、基板設計者と筐体設計者の連携が重要です。ここでは対策が必要な部品の見分け方から、その対策のポイントまで解説します 。

小型・高電力チップ抵抗器のための放熱設計入門 

講師1|有賀

KOA株式会社
技術イニシアティブ
研究開発センター
有賀 善紀

小型・高電力チップ抵抗器の性能を安全かつ最大限に引き出すには、基板や筐体を含めた放熱設計が不可欠です。本セミナーでは基板放熱の基本的な考え方から、具体的な製品でのシミュレーション・実験結果を例とした実践的な熱設計手法まで、分かりやすく解説します。

端子部温度の測定方法

講師3|平沢

KOA株式会社
技術イニシアティブ
製品開発センター
平沢 浩一

弊社の表面実装抵抗器は基板放熱型の熱設計が可能となるように、IEC 60115-8(2023)あるいはJIS C5201-8(2025)に従い、端子部温度規定による負荷軽減曲線をご提示しています。特に高電力で使用する表面実装抵抗器については必ず端子部温度をご確認いただきたいのですが、熱電対による測定に関しては熱電対からの放熱が問題になる場合とならない場合があります。その違いをご説明いたします。また、赤外線サーモグラフィーを用いて端子部温度を測定する場合の注意点についてもご説明いたします 。

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